元素范圍從S到U
檢測限1ppm
分辨率160ev
重復(fù)性0.1
分析時間30s到200s
環(huán)境溫度15-30度
電源電壓220v
整機功率500w
天瑞儀器edx1800b產(chǎn)品詳細技術(shù)資料介紹,天瑞儀器edx1800b參數(shù)和性能配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司銷售部提供rohs檢測儀EDX1800b產(chǎn)品報價和說明。一鍵式設(shè)計的xrf測試儀器被廣泛應(yīng)用于rohs指令的有害物質(zhì)含量測試和分析,無需化學(xué)前處理的特性,適合工廠提供分析效率,簡化測試手段。
完全滿足于黃銅成分分析以及其他金屬樣品的成分分析
應(yīng)用新一代的高壓電源和X光管,提供了產(chǎn)品的可靠性
利用新X光管提高儀器的測試效率,并優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高防護等級
不添加任何硬件設(shè)施既可升級分析功能,方便靈活的隨未來發(fā)展的分析需要增加分析元素及合金種類
采用多參數(shù)的線性回歸方法,使元素間的吸收、排斥效應(yīng)得到明顯的降低
檢測時間短,可以大大提高工作效率
產(chǎn)品優(yōu)勢
1.分析樣品無損、快速,針對未知樣品可以快速分析;
2.可采用小型的XRF設(shè)備進行便攜測試。
3.在保證工作曲線完善和樣品前處理的情況下,其測試結(jié)果重復(fù)性好、準(zhǔn)確度高。
4.多元素可同時測試得出結(jié)果,一次可測試元素二十多個以上;
5.可用于生產(chǎn)中的過程內(nèi)部控制,測試可達到在線、速度快,快速反應(yīng)生產(chǎn)線等特點。
x熒光光譜儀xrf是天瑞儀器公司為合金測試開發(fā)的儀器類型。
具有測試精度高、測試速度快、測試簡單等特點。
同時具有合金測試、合得獎號分析、有害元素分析,土壤分析儀、貴金屬分析等功能。
檢測樣品包括從鈉至鈾的所有合金、金屬加工件、礦物、礦渣、巖石等,形態(tài)為固體、液體、粉末等。
XRF的篩選X射線熒光光譜儀是公認的RoHS篩選檢測儀器,由于其檢測速度快、分辨率高、實施無損檢測,所以被廣泛采用。熒光光譜儀繁多,以至于分不出誰好誰差了。在《電子信息產(chǎn)品有毒有害物質(zhì)的檢測方法》IEC62321標(biāo)準(zhǔn)文本里提到:“用能量散射X射線熒光光譜法(ED-XRF)或波長散射X射線熒光光譜法(WD-XRF)對試樣中目標(biāo)物進行測試,可以是直接測量樣品(不破壞樣品),也可以是破壞樣品使其達到”均勻材料”(機械破壞試樣)后測試。”能真正準(zhǔn)確無誤地將試樣篩選出合格、不合格、不確定三種類型,而且能限度地縮小“不確定”部分是好儀器。在保證既定準(zhǔn)確度的情況下盡可能快速檢測。尤其是企業(yè)選購,光譜儀是做日常RoHS監(jiān)督檢測用,非??粗剡@一點。所以,能夠準(zhǔn)確無誤地將試樣篩選出合格、不合格、不確定三種類型,又能限度地縮小“不確定”部分,而且全部過程是在短的時間內(nèi)完成的X射線熒光光譜儀是滿足使用要求的光譜儀
ROHS檢測儀相關(guān)基礎(chǔ)術(shù)語知識
1.精密度
定義為同一樣品多次測定的平均值m和各次測定值mi之差。換句話說,精密度是重現(xiàn)性(Reproducibility或Repeatability)。X熒光分析 的精度是和測量的時間有關(guān)的,測量的時間越長,則精度越高。
2.重復(fù)性
定義為儀器測同一款樣品的連續(xù)測試十一次或二十一次的相對標(biāo)準(zhǔn)偏差。
3.準(zhǔn)確度
定義為各次測定值mi對于真值(t)的偏差。因而,若精密度差,準(zhǔn)確度也一定差。反之,準(zhǔn)確度很差,精密度確有時很高。這是因為有時可能有系統(tǒng)誤差的存在。要想可靠性(Reliability)好,精密度和準(zhǔn)確度都要求高。
4.誤差
X熒光分析的誤差往往是很難計算的,所以,通常情況下,把統(tǒng)計漲落引起的誤差作為測量的誤差。
5.檢出限(Limit of detection)
當(dāng)獲得背景強度標(biāo)準(zhǔn)偏差三倍以上的峰值強度時的元素含量,稱為檢出限(或叫檢出限)。這時候,測到的含量的置信度(可信的程度)是99.87%.測定檢出,一般要用含量比較低的樣品來測量。檢出限因所用試樣(基體)的不同而不同。
6.計數(shù)統(tǒng)計誤差
在放射性物質(zhì)的測量中,假設(shè)儀器穩(wěn)定性、機械在現(xiàn)性可確保,由儀器機械產(chǎn)生的誤差可以忽略不計,但計數(shù)統(tǒng)計誤差還是不能。X射線強度是把入射到計數(shù)器上的光子變成脈沖后計數(shù)而得到的。因而計數(shù)值在本質(zhì)上具有統(tǒng)計誤差。 被測X射線的計數(shù)值(N)的分布屬于隨機事件,其標(biāo)準(zhǔn)偏差由 N求出。 N叫統(tǒng)計誤差。時間越長,則相對偏差越小,即精度越高。
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